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納米力學(xué)臺

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。

  • 產(chǎn)品型號:NI-100
  • 更新時間:2024-12-10
  • 訪  問  量:3448
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

產(chǎn)品詳情

    PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺集成了壓電驅(qū)動四軸樣品臺及定量力學(xué)壓頭,樣品及壓頭兩側(cè)同時控溫,是開展材料納米力學(xué)行為研究的重要工具。

     技術(shù)指標
 

力加載指標 加熱控溫
1. 載荷大小:0-100mN; 1. 溫度范圍:室溫至400℃(更高溫度可選);
2. 位移范圍:100μm; 2. 控溫精度:±1℃;
樣品臺移動指標 3. 控溫方式:兩端同時控溫;
1. XYZ三軸或XYZT四軸; 4. 軟件控制;
2. X軸移動行程:±10mm;  
3. Y軸移動行程:±10mm;  
4. Z軸移動行程:±10mm;  
5. 軟件控制;  

    產(chǎn)品選型

    納米力學(xué)臺 同時可拓展低溫附件。

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI、JEOL、ZEISS、Tescan及ZEPTOOLS等多種掃描電子顯微鏡型號的納米力學(xué)臺,支持定制。

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